武漢嘉儀通 TEA系列熱膨脹系數分析儀采用創新的光干涉原理專利技術，可無損檢測塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數，廣泛應用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發以及質量檢驗。
TEA采用創新的光干涉原理專利技術，可無損檢測塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數，廣泛應用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發以及質量檢驗。
熱膨脹系數分析儀獨特技術
自主知識產權產品，擁有多項技術專利。
基于光干涉原理的創新技術，通過照射到樣品上下表面產生的兩束反射光發生干涉，得到光功率隨溫度的變化曲線，通過計算得到材料的熱膨脹系數。
采用PID調節與模糊控制相結合形式控制的紅外加熱方式，大溫區連續、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制。
非接觸式無損檢測，測試精度高。
具備外接抽真空設備、循環水冷設備及載氣或制冷能力。
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